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Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)

NanoWizard® 3 BioScience AFM from JPK

A complete solution for your applications:

  • High resolution imaging of biological and other soft samples in air or liquid.
  • Simultaneous advanced optical and AFM experiments.
  • Precise force spectroscopy and force mapping.
  • Nanomanipulation or Nanolithography.

Features:

  • Highest AFM resolution in stand-alone or inverted optical microscope configuration.
  • Tip-scanner technology for safe and easy operation in air, gases, and fluids.
  • 100x100x15μm³ scan range with lowest noise levels in closed loop.
  • All major AFM modes like contact with lateral force, advanced AC modes like non-contact, phase detection, electrical and magnetic imaging modes in liquids or air.

Valor del Servicio:

Típicamente se cobra UF 2 + IVA por hora de uso de instrumento más proporcionalmente 1 cantilever (punta AFM) por cada 4 muestras. El valor de un cantilever es $30.000. Por ej. para el análisis de una muestra se cobra adicionalmente 0,25 x $30.000 = $7.500. Análisis de resultados tiene un valor adicional. La preparación de muestras de nanopartículas individuales o muestras similares sobre un sustrato ultraplano (wafer de Si/SiO2 o similar) y la previa limpieza del sustrato tiene un valor adicional.

Contacto: Prof. Ulrich Volkmann / volkmann@fis.puc.cl  / Fono: +56 2 23544468

Para más información puede visitar la web de servicios.

¡Advertencia compradores de supuestos nanopartículas de cobre!

Hemos detectado la circulación de supuestos informes de análisis nuestros, alterados, manipulados o falsificados, como parte de la información de venta de productos de nanopartículas de cobre. Los informes cuentan con nuestros nombres e incluso pueden contar con las firmas de las personas que realizaron el análisis AFM. Los informes NO corresponden al producto que les ofrecen, sino que fueron sacados de contexto y usados para “certificar” productos que NO están cubiertos por el análisis o la muestra a la cual se refiere el informe.
En caso de dudas, para verificar la autenticidad de su informe, por favor comuníquense con nosotros:  (
Prof. Dr. Ulrich Volkmann, Email: volkmann@fis.puc.cl).

Alert message for customers / end-users of copper nanoparticles!

[Key words: copper nanoparticles (Cu-NP), customers, end-user, vendor, copper nanoparticle size, AFM, Cu-NP manufacturer, Cu-NP selling, Cu-NP handling, Cu-NP analysis, shelf-life, Cu-NP lab report, altered, manipulated or falsified reports]

We have detected the existence, circulation and use of altered, manipulated or falsified reports of our AFM analysis executed for supposed manufacturers or sellers of supposed copper nanoparticles (Cu-NP) from Chile.
The reports show de name and institution of the persons who carried out the analysis with Atomic Force Microscopy and may count even with the signatures of these persons. Please be aware that these lab reports, dated from June 2, 2016 or later, do not correspond to the product or batch that may be offered to you. The reports are taken out of the context and generate the impression of a kind of "certification" of the product. None of the reports of our lab or other labs at the Institute of Physics of Pontificia Universidad Católica de Chile certifies either the quality of the product you may receive, nor the origin of the product:

• We do not take samples at a production line of any supposed manufacturer.
• We, at our lab, have no certainty, evidence or proof about the existence of Cu-NP manufacturers in Chile.
• We receive at our labs samples from supposed manufactures, vendors, re-sellers and Cu-NP customers. These samples are just a snapshot image of the material. Nanoparticles, including copper nanoparticles, when improperly handled, tend to change their consistency from minute to minute, due chemical reactions with gases present in the environment (e.g. oxygen), due to growth of nano- or micro-crystals (due to contact between particles, due to vibrations / transport, etc.). That means the analysis of this specific sample does not guarantee that the material you may receive will have the same consistency or purity of the material analyzed in our laboratories. In other words: The result of our analysis naturally cannot be extended to a whole production batch, or to an entire product line, or to a specific manufacturer or seller.

Please be also aware that AFM-analysis, in combination with a suited sample preparation, will give you only information about particle size. From AFM measurements you cannot get any information about sample composition. Complementary methods must be applied (e.g. x-ray diffraction, EDS, EDX), in order to determine the chemical composition of the sample. As a customer you must require from your vendor or re-seller the corresponding analysis, which may show that most of the powder consists of copper o most of the material consists of copper oxide and/or copper salts and/or other materials. To get precise information about nanoparticle size you must ask for, or receive an analysis of AFM, FE-SEM, TEM or SAXS. By our knowledge (please correct us) SAXS seems not to be available in Chile at this moment (November 2016). AFM, FE-SEM and TEM are available at our Institute.
Also make sure that the date of the analysis does not differ too much from the date of your quote you got from a manufacturer or seller (e.g., if you receive a quote in September or October, accompanied by lab reports from June or July, it is not helpful for you).

Finally, as an expert customer or end user (familiar with Condensed Matter Physics, Chemical Physics, Material Science, Nanoscience and provided with the characteristic experimental and technological skills of these areas) you may require a similar expertise from your manufacturer or vendor.

Take care: Real copper nanoparticles Cu-NP are highly reactive and can even cause fire or explosion if they get in contact with oxygen.

In case of any doubt or to check the authenticity and validity of the AFM analysis you received, please contact us (Prof. Dr. Ulrich Volkmann, Email: volkmann@fis.puc.cl).

 

Consejos generales (nano copper, copper nanoparticle, AFM analysis, shelf life, end user):
 
-Los informes corresponden a muestras entregadas a nuestro laboratorio. Nosotros NO tomamos muestras durante el proceso de producción, envasado, almacenamiento, etc. Por eso los informes NO certifican de ninguna manera el producto que le ofrece o entrega un vendedor o re-vendedor o un supuesto fabricante. Tampoco podemos verificar el origen de las muestras que nos entregan nuestros clientes para su análisis.
 
-Con nuestro método (AFM) podemos, después de un complejo proceso de preparación, detectar si hay nanopartículas en la muestra. El análisis con AFM sirve muy bien (en combinación con la adecuada preparación de la muestra) para determinar tamaños de nanopartículas. El AFM NO entrega un análisis químico de los elementos o del material (nanopartículas o aglomeraciones). Es decir, solo con AFM NO se puede determinar si se trata de cobre puro, de oxido de cobre o de otro material. Para determinar la composición química del material vamos a contar a partir de aprox. noviembre 2016 con un moderno equipo de FE-SEM con EDS.
 
-Siempre recuerden: Nanopartículas son INVISIBLES para el ojo y para el microscopio de luz. Nanopartículas de un tamaño menor a aprox. 80nm son invisibles para microscopios electrónicos (SEM convencional).
Si Ud. puede ver con el ojo el material que le están ofreciendo, es seguro que se trata en el mejor de los casos de aglomeraciones (o clusters) de nanopartículas. El cliente debe separar estas aglomeraciones, para obtener nanopartículas. Para eso el cliente debe contar con mucha experiencia en nanociencia o emplear personal científico con años de experiencia en el área de Física de Materia Condensada y Nanociencia. Si ud. como cliente final NO maneja la técnica de separación de las aglomeraciones de partículas, simplemente no va lograr incorporar nanopartículas en sus productos. 
 
Después de lo ocurrido le podemos recomendar: Asegúrense que el producto es lo que el vendedor o re-vendedor promete. Nanopartículas de cobre cambian su consistencia minuto a minuto. Un adecuado manejo del producto desde el instante de producción, almacenamiento y transporte es esencial. De lo contrario, las nanopartículas de cobre se convierten rápidamente en óxido de cobre (lo que el experto fácilmente detecta en el color del material aglomerado) o por medio de procesos nanoscopicos, parecidos a la soldadura por roce, crecen micropartículas o microcristales (por ej. dendritas) de cobre.
 
En caso de dudas sobre la existencia y el tamaño de nanopartículas en el producto, le recomendamos solicitarnos un análisis AFM y/o solicitarnos orientación en general. Nosotros tenemos una larga experiencia en el análisis de material en la escala nanométrica. Nuestro laboratorio de Ciencia de Materiales y Superficie es pionero en el análisis AFM (desde 1997) y preparación de muestras a escala nanométrico y sub-nanométrico.
 
En caso de que tenga dudas acerca de la pureza del material puede solicitar un análisis químico o a partir de (aprox.) noviembre de 2016, un análisis EDS con nuestro nuevo equipo de FE-SEM en CIEN-UC.

 

Áreas de Investigación

Los académicos del Instituto de Física UC realizan investigación teórica y experimental en las siguientes áreas:

Las actividades de investigación han sido financiadas por diversas fuentes tanto de Chile (Fondecyt, Mecesup, Anillos PBCT/Conicyt, Iniciativa Científica Milenio, Fondef, financiamiento Basal/Conicyt, Cátedras Presidenciales en Ciencia), como del extranjero (ECOS/Conicyt, CNRS/Conicyt, Royal Society (UK), DFG/Conicyt, DAAD/Conicyt, Volkswagen Stiftung (Alemania), NSF (US)), entre muchas otras.

 

lineasdeinvestigacion fis

 

 

Académicos

NombreCargoEmail*Teléfono
Arévalo, Edward / Dr.rer.nat Universitát Bayreuth, Alemania Profesor Asociado earevalo 955047623
Bañados, Máximo / Dr. Universidad de Chile, Chile Profesor Titular mbanados 955044487
Benguria, Rafael / Ph.D. Princeton University, EE.UU. Profesor Titular rbenguri 955047072
Bhuyan, Heman / Ph.D. Gauhati University, India Profesor Asociado hbhuyan 955044985
Buzza, Hilde / Ph.D. Universidad de Sao Paulo, Brasil Profesor Asistente hilde.buzza 955044495
Cabrera, Alejandro / Ph.D. U. of California, San Diego, EE.UU.  Profesor Titular Honorario  acabrera 955044478
Caprile, Paola / Ph.D. Universität Heidelberg, Alemania Profesora Asociada   pfcapril 955044800
Cornejo, María Daniela / Ph.D University of Wisconsin Madison Profesora Asistente madaniela.cornejo 955041692
Cottin, GiovannaPh. D University of Cambridge, Reino Unido
Profesora Asistente gfcottin 955044991
De Nittis, Giuseppe / Ph.D. SISSA, Italia Profesor Asociado 
gidenittis 955041693
Depassier, M. Cristina / Ph.D. Columbia University, EE.UU. Profesora Titular  mcdepass  955044482
Díaz, Donovan / Dr. Universidad de Chile - FCFM, Chile  Profesor Asociado  ddiazr  955041680
Díaz, Marco Aurelio / Ph.D. University of California, Santa Cruz, EE.UU.  Profesor Titular  mdiaz  955044480
During, Gustavo / Ph.D. Université Paris VI, Francia Profesor Asociado  gduring  955047622
Espinoza, Ignacio / Ph.D. Universität Heidelberg, Alemania  Profesor Asociado igespino  955047624
Faraggi, Alberto/ Ph.D University of Michigan, EE.UU Profesor Asociado afaraggi 955041688
Favre, Mario / Ph.D. Imperial College, Inglaterra  Profesor Titular Honorario mfavre  955044472
Feuillade, Christopher / Ph.D. University of Manchester, Inglaterra Profesor Visitante  cfeuillade  955041687 
Gago, María Araceli/ Ph.D. Universidad de Santiago de Compostela, España Profesora Visitante agago  
Garay, Francisca/ Ph.D. University of Edinburgh, Reino Unido Profesora Asistente fmgaray 955044479
García, Griselda / Ph.D. Instituto Balseiro, Argentina  Profesora Asociada griselda.garcia  955045819
Gence, Loïk / Ph.D. Université Catholique de Louvain, Bélgica Profesor Asistente logence 955047628
González, Claudio/ Ph. D Universidad Federico Santa María,  Chile Profesor Asistente cgonzalef 955044478
Goyeneche, Dardo/ Ph. D Universidad de Mar del Plata, Argentina Profesor Asociado dardo.goyeneche 955041688
Hevia, Samuel / Ph.D. Universidad Técnica Santa María, Chile Profesor Asociado  sheviaz  955045483
Koch, Benjamín / Ph. D Johann Wolfgang Goethe University in Frankfurt , Alemania Profesor Visitante bkoch  
Loewe, Benjamín / Ph.D. Georgia Institute of Technology 
Profesor Asistente baloewe 955044482
Maldonado, Melissa/ Ph.D. Universidad Federal de Pernambuco, Brasil Profesora Asistente melissa.maldonado 955044587
Maze, Jerónimo / Ph.D. Harvard University, Cambridge, EE.UU.  Profesor Asociado  jmaze  955044486
Mejía, José / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Titular  jmejia  955047149
Morales, Luis / Dr. rer. nat Universitat Bayreuth, Alemania Profesor Asociado lmoralesl 955047505
Muñoz, Enrique / Ph.D. Rice University, Houston, Texas, EE.UU. Profesor Asociado ejmunozt 955047625
Ochoa, Juan Pedro / Ph.D. California Institute of Technology, EE.UU. Profesor Visitante jpochoa  
Orszag, Miguel / Ph.D. Worcester Polytechnic Institute, EE.UU. Profesor Emérito  morszag  955044495
Ramírez, Ricardo / Ph.D. U. of California, Berkeley, EE.UU. Profesor Emérito  rramirez  955044587
Ramos, Esteban / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asociado  evramos  955044585
Reyes, Sebastian / Ph.D. SUNY at Stony Brook, EE.UU. Profesor Asociado sareyes 955041687
Rica, Sergio / Ph. D. Université de Nice- Sophia Antipolis 
Profesor Asociado sergio.rica 955044476
Rodríguez, Roberto / Dr. Universidad Federal de Pernambuco, Brasil Profesor Asociado rrodrigueu 955045790
Russomando, Andrea / Ph.D Universitá la Sapienza Profesor Asistente arussomando 955044498
Sánchez, Beatriz / Dr. Universidad de Sevilla, España Profesor Asociado  bsanchezn  955045906
Seifert, Birger / Dr.rer.nat Universitat Rostock, Alemania Profesor Asociado bseifert 955041685
Soto, Rodrigo / Ph.D. University of Illinois at Urbana-Champaign, EE.UU. Profesor Asociado rodsoto 955049728
Stockmeyer, Edgardo / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asociado stock 955047619
Valenzuela, Julio / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asistente jcvalen1 955049657
Veloso, Felipe / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asociado fveloso 955044496
Vogel, German / Dr. Universidad de Ciencia y Tecnología, China
Profesor Asistente gvogel  955044483
Volkmann, Ulrich / Ph.D. Dr.rer.nat Universität Mainz, Alemania Profesor Titular volkmann 955044468
Wallentowitz, Sascha / Dr.rer.nat Universität Rostock, Alemania Profesor Asociado swallen 955047148
Wyndham, Edmund / Ph.D. London University, Inglaterra Profesor Visitante ewyndham 955044498

*Mail xxxx at uc.cl

  1. Profesor interdisciplinario (Facultad de Matemáticas)
  2. Profesor interdisciplinario (Facultad de Ciencias Biológicas)
  3. Profesor interdisciplinario (Facultad de Química)

 

 

Académicos (2)

NombreCargoEmail*Teléfono
Alfaro, Jorge / Ph.D. City College of New York, EE.UU. Profesor Titular  jalfaro 2 2354 4483
Arévalo, Edward / Dr.rer.nat Universitát Bayreuth, Alemania Profesor Asociado earevalo 2 2354 7623
Bañados, Máximo / Dr. Universidad de Chile, Chile Profesor Titular maxbanados 2 2354 4487
Benguria, Rafael / Ph.D. Princeton University, EE.UU. Profesor Titular rbenguri 2 2354 7072
Bhuyan, Heman / Ph.D. Gauhati University, India Profesor Asociado hbhuyan 2 2354 4985
Cabrera, Alejandro / Ph.D. U. of California, San Diego, EE.UU.  Profesor Titular  acabrera 2 2354 4478
Caprile, Paola / Ph.D. Universität Heidelberg, Alemania Profesora Asociada   pcaprile 2 2354 4800
Cornejo, María Daniela / Ph.D University of Wisconsin Madison Profesora Asistente mdcornej 223541692
De Nittis, Giuseppe / Ph.D. SISSA, Italia Profesor Asistente1
gidenittis 2 2354 1693
Depassier, M. Cristina / Ph.D. Columbia University, EE.UU. Profesora Titular  mcdepass  2 2354 4482
Díaz, Donovan / Dr. Universidad de Chile - FCFM, Chile  Profesor Asistente  dodiaz  2 2354 1680
Díaz, Marco Aurelio / Ph.D. University of California, Santa Cruz, EE.UU.  Profesor Titular  madiaz  2 2354 4480
During, Gustavo / Ph.D. Université Paris VI, Francia Profesor Asociado  gduring  2 2354 7622
Espinoza, Ignacio / Ph.D. Universität Heidelberg, Alemania  Profesor Asociado iespinoza  2 2354 7624
Favre, Mario / Ph.D. Imperial College, Inglaterra  Profesor Titular  mfavre  2 2354 4472
Feuillade, Christopher / Ph.D. University of Manchester, Inglaterra Profesor Visitante  cfeuillade  2 2354 1687 
Gago, María Araceli/ Ph.D. Universidad de Santiago de Compostela, España Profesora Visitante agago  
Garay, Francisca/ Ph.D. University of Edinburgh, Reino Unido Profesora Asistente fmgaray 2 23544479
García, Griselda / Ph.D. Instituto Balseiro, Argentina  Profesora Asociada ggarcia  2 2354 5819
Gence, Loïk / Ph.D. Université Catholique de Louvain, Bélgica Profesor Asistente loik.gence 2 2354 7628
Hevia, Samuel / Ph.D. Universidad Técnica Santa María, Chile Profesor Asociado  samuel.hevia  2 2354 5483
Koch, Benjamín / Ph. D Johann Wolfgang Goethe University in Frankfurt , Alemania Profesor Visitante bkoch  
Loewe, Marcelo / Dr. rer. nat Universität Hamburg, Alemania Profesor Titular  mloewe  2 2354 4449
Maze, Jerónimo / Ph.D. Harvard University, Cambridge, EE.UU.  Profesor Asociado  jmaze  2 2354 4486
Mejía, José / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Titular  jmejia  2 2354 7149
Morales, Luis / Dr. rer. nat Universitat Bayreuth, Alemania Profesor Asociado lmolina 2 2354 7505
Muñoz, Enrique / Ph.D. Rice University, Houston, Texas, EE.UU. Profesor Asociado munozt 2 2354 7625
Ochoa, Juan Pedro / Ph.D. California Institute of Technology, EE.UU. Profesor Visitante jpochoa  
Orszag, Miguel / Ph.D. Worcester Polytechnic Institute, EE.UU. Profesor Emérito  morszag  2 2354 4495
Ramírez, Ricardo / Ph.D. U. of California, Berkeley, EE.UU. Profesor Emérito  rramirez  2 2354 4587
Ramos, Esteban / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asociado  evramos  2 2354 4585
Reyes, Sebastian / Ph.D. SUNY at Stony Brook, EE.UU. Profesor Asociado sreyes 2 2354 1687
Rica, Sergio/ Ph.D. Université de Nice-Sophia Antipolis Profesor Asociado sergio.rica  
Rodríguez, Roberto / Dr. Universidad Federal de Pernambuco, Brasil Profesor Asociado rrodriguez 2 2354 5790
Russomando, Andrea / Ph.D Universitá la Sapienza Profesor Asistente andrearussomando 223544498
Sánchez, Beatriz / Dr. Universidad de Sevilla, España Profesor Asociado  bsanchez  2 2354 5906
Seifert, Birger / Dr.rer.nat Universitat Rostock, Alemania Profesor Asociado bseifert 2 2354 1685
Soto, Rodrigo / Ph.D. University of Illinois at Urbana-Champaign, EE.UU. Profesor Asistente rsoto 2 2354 9728
Stockmeyer, Edgardo / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asociado stock 2 2354 7619
Valenzuela, Julio / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asistente jcvalenzuela 2 2354 9657
Veloso, Felipe / Dr. Universidad Católica de Chile, Chile Profesor Asociado fveloso 2 2354 4496
Volkmann, Ulrich / Ph.D. Dr.rer.nat Universität Mainz, Alemania Profesor Titular volkmann 2 2354 4468
Wallentowitz, Sascha / Dr.rer.nat Universität Rostock, Alemania Profesor Asociado swallent 2 2354 7148
Wyndham, Edmund / Ph.D. London University, Inglaterra Profesor Visitante ewyndham 2 2354 4498

*Mail xxxx at fis.uc.cl

  1. Profesor interdisciplinario (Facultad de Matemáticas)
  2. Profesor interdisciplinario (Facultad de Ciencias Biológicas)
  3. Profesor interdisciplinario (Facultad de Química)

 

 

Jornadas para profesores

{tab Descripción}

La Facultad de Física, a través de sus Institutos de Física y Astrofísica, realiza una Jornada de Actualización en Investigación, dictada por investigadores responsables de proyectos científicos. Los asistentes a las jornadas obtienen un Certificado de Participación de ocho horas cronológicas emitido por la Facultad de Física de la Pontificia Universidad Católica de Chile.

 

collage jornadaprofes

 

Organización

El Instituto de Física y sus áreas de trabajo se organizan de la siguiente forma:

  • Director del Instituto: Prof. Roberto Rodríguez
  • Director de Pregrado: Prof. Marco Aurelio Díaz
  • Director de Investigación y Postgrado: Prof. Jerónimo Maze
  • Jefe de carrera Doctorado en Física: Prof. Enrique Muñoz
  • Jefe de carrera Magíster en Física: Prof. Rodrigo Soto 
  • Jefe de carrera Magíster en Física Médica: Prof. Ignacio Espinoza
  • Coordinador de Licenciatura en Física: Prof. Felipe Veloso
  • Coordinador de Laboratorios Docentes: Prof. Birger Seifert
  • Coordinador de Docencia y Laboratorios de Servicio: Prof. Luis Morales
  • Coordinador de Extensión: Prof. José Mejía
  • Secretario Académico: Prof. Julio Valenzuela
  • Miembro Comité Curricular Pedagogía en Ciencias y Matemática: Prof. Donovan Díaz
  • Encargado de Biblioteca: Prof. Francisca Garay
  • Encargado de Coloquios: Prof. Rodrigo Soto
  • Encargado del Taller Mecánico: Prof. Luis Morales

 

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