El Centro de Investigación en Nanotecnología y Materiales Avanzados (CIEN-UC), lanza convocatoria para primer Concurso de Micrografía Electrónica
El CIEN-UC ha lanzado la primera convocatoria del "Concurso de micrografía electrónica CIEN-UC" con el fin de premiar las imágenes más impresionantes que se han obtenido con esta técnica.
El objetivo de esta convocatoria es divulgar el trabajo científico mediante el uso del microscopio electrónico como instrumento de caracterización de nanomateriales. A través de este concurso se busca reconocer el trabajo de investigadores científicos e incentivar la interpretación e intervención artística de las imágenes obtenidas por microscopía electrónica de barrido.
La fecha límite para el envío de las imágenes es el sábado 15 de julio de 2023.
Las postulaciones serán recibidas a través del siguiente link: FORMULARIO. Para más información
puede consultar las bases del concurso.
