Microscopía de Fuerza Atómica y Confocal (AFMII)
La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de microscopía de campo cercano de alta resolución (~nm), que proporciona topografía de la muestra midiendo la fuerza de interacción de los átomos de la superficie y la punta.
El equipo es MultiView 4000 de Nanonics Imaging Ltd., acoplado a un sistema confocal y un espectrómetro.
Financiamiento: FONDEQUIP, EQM140168.
Las puntas de este equipo (AFM) funcionan con tecnología "Quartz Tuning Fork". Al no usar un láser para la adquisición de datos, permite realizar estudios de fluorescencia, toma de espectros y microscopía confocal en simultaneo con el estudio AFM. Las puntas utilizadas son las "Akiyama-Probe" de NANOSENSORS.
Además de esto se pueden realizar medidas de AFM conductivo (Conductive AFM), Microscopía de fuerza magnética (MFM) y AFM en líquidos.
Servicios básicos:
- Imagen AFM
- Imagen confocal
- Microscopía confocal y toma de espectro
- Medidas de tiempo de correlación
Costo del servicio: 2UF+IVA por hora de uso del equipo, adicionalmente de 1 punta de AFM por cada 4 muestras. El valor de 1 punta Akiyama es de $42000.
Contáctenos:
Para mayor información de nuestros servicios contáctenos al afmconfocal@fis.puc.cl
