Uncategorised

Postdoctorados

Investigadores Actuales Instituto Física

 

Investigadores que han tenido posición postdoctoral en la UC 

 

 

Consulta Postdocs Activos
Full Name

Personal de apoyo

 

Profesionales

 

NombreCargoEmailTeléfono
Acuña, Juan Administrador de Sistemas, Instituto de Física jacuna at uc.cl 955047155

Adrián,

Álvaro 
Profesional Encargado de Laboratorio FE-SEM, Instituto de Física
aradrian at uc.cl 955041441

Bahamondes, 

Rosa 
Encargada de Laboratorios Docentes, Instituto de Física rbahamon at fuc.cl 955045824
Becerra, Enma Encargada de Gestión Financiera de Proyectos de Investigación, Instituto de Física enma.becerra at uc.cl 955047061
Galleguillos, Matías Técnico Taller Laboratorios Docentes, Facultad de Física

migalleguillos at uc.cl

955044714
Jerez, Rubén Encargado Laboratorio Dosimetría, Instituto de Física
rjerez at uc.cl  955047683
Pinto, Roberto Profesional Técnico de Laboratorio, Instituto de Física rpinto at uc.cl 955044714

Pruneda, Bárbara

Encargada de Laboratorio Difracción Rayos X, Instituto de Física bpruneda at uc.cl 955044484

Shinya, Paulina

Gestora de Investigación, Instituto de Física paulina.shinya at uc.cl 955041688

Soto, Marcela

Profesional Técnico Laboratorio SEM, , Instituto de Física msoto at uc.cl 955044484

 

Administrativos

NombreCargoEmailTeléfono
Castro, Cecilia Auxiliar, Instituto de Física ccastro at uc.cl 955044501
Galvez, Juan Técnico Mecánico, Física Experimental, Instituto de Física jgalvez at fis.uc.cl 955041683
Jara, Sebastián Asistente de Laboratorio Docente, Facultad de Física sjara at fis.uc.cl 955044485
Martinez, Ximena Asistente Administrativa, Física Experimental, Instituto de Física ximena.martinez at fis.uc.cl 955044499
Ríos, Yasna Asistente Administrativa , Instituto de Física yriosr at fis.uc.cl 955047139
Saavedra, Carolina Asistente Administrativa de Física Teórica, Instituto de Física carolina.saavedra at fis.uc.cl  955044491

 

Personal de apoyo Facultad de Física

NombreCargoEmailTeléfono
Aburto, Nicole Directora Económica y de Gestión, Facultad de Física  niaburto at uc.cl
955044099
Bravo, Emilio Coordinador de Postgrado e Investigación , Facultad de Física ebravu at uc.cl 955044471
Charris, Karina Coordinadora Oficina Postdoctoral, Facultad de Física lecharris at uc.cl 955044938
Díaz, Nancy Asistente Decanato, Facultad de Física nancy at uc.cl 955044470
Domínguez, Daniela Subdirectora de Docencia, Facultad de Física ddominguez at uc.cl 955047073
Galleguillos, Matías Técnico Taller Laboratorios Docentes, Facultad de Física migalleguillos at uc.cl 955044714
González, Renato Técnico Taller Mecánico, Facultad de Física renato.gonzalez at uc.cl 955041683
Mejías, María Jesús Coordinadora de Asuntos Estudiantiles, Facultad de Física mariajesus.mejias at uc.cl  955044801
Meza, Carolina Coordinadora de Docencia de Pregrado, Facultad de Física cmezar at uc.cl 955045174
Miranda, Daniela Encargada de Difusión y Comunicaciones, Facultad de Física
difusion.fisica at uc.cl 955047061
Ortopan, Matías Asistente administrativo, Facultad de Física matias.ortopan at uc.cl 955044477
Pereira, Jessica Asistente Administrativa Direccion de Docencia, Facultad de Física docencia.fisica at uc.cl 955044801

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Servicios a empresas

El Instituto de Física (IF) UC ofrece servicios técnicos para empresas y particulares. Estos son entregados por profesores y personal técnico del IF, quienes pueden responder sus dudas y ayudarlo con la interpretación de datos.

Actualmente, el IF entrega los siguientes servicios:

Si desea descargar un informe de servicio puede hacer click aquí.

Si quieres conocer más en detalle puedes ir a la web de servicios de Física.

Otros servicios

Además de los mencionados anteriormente, el Instituto de Física de la UC recibe distintos requerimientos:

  • Ofertas de prácticas profesionales para nuestros alumnos.
  • Solicitudes para realizar asesorías a empresas que así lo necesiten.

Si a su empresa le interesa hacer donaciones a nuestro instituto puede hacerlo vía Ley de Donaciones. Puede contactarnos en el correo extension at fis.uc.cl

Medición de Porosidad y Área de Superficie (Método BET)

Equipo Quantasorb de Quantachrome Corp. que permite adsorción de gas nitrógeno a temperatura de nitrógeno líquido en un modo de flujo dinámico. Se puede determinar área de superficie real de una muestra y también una distribución de tamaño de porosidad. Este equipo también se ha usado para realizar desorción programada de CO2 en materiales ferroeléctricos. En este caso, contrario de la fisisorción de nitrógeno, se determina la quimisorción de CO2 en óxidos ferroeléctricos.

Financiamiento: Fundación Andes “Apoyo al desarrollo de la física experimental - Para la creación del Laboratorio de Ciencia de Materiales, 1989".

Surface Area Measurements (BET technique)

A Quantasorb dynamic flow gas sorption system. This equipment allows single or multipoint surface area analysis, adsorption and desorption isotherms, pore volume and pore size distribution. The system can be used to characterize roughness of films. The system is used to study adsorption of CO2 in several ferroelectric powder samples.

Funds provided by Fundacion Andes, 1990.

Contacto: Prof. Alejandro Cabrera / acabrera@fis.puc.cl / Fono: +56 2 23544478

Para más información puedes visitar la web de servicios.

 

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)

NanoWizard® 3 BioScience AFM from JPK

A complete solution for your applications:

  • High resolution imaging of biological and other soft samples in air or liquid.
  • Simultaneous advanced optical and AFM experiments.
  • Precise force spectroscopy and force mapping.
  • Nanomanipulation or Nanolithography.

Features:

  • Highest AFM resolution in stand-alone or inverted optical microscope configuration.
  • Tip-scanner technology for safe and easy operation in air, gases, and fluids.
  • 100x100x15μm³ scan range with lowest noise levels in closed loop.
  • All major AFM modes like contact with lateral force, advanced AC modes like non-contact, phase detection, electrical and magnetic imaging modes in liquids or air.

Valor del Servicio:

Típicamente se cobra UF 2 + IVA por hora de uso de instrumento más proporcionalmente 1 cantilever (punta AFM) por cada 4 muestras. El valor de un cantilever es $30.000. Por ej. para el análisis de una muestra se cobra adicionalmente 0,25 x $30.000 = $7.500. Análisis de resultados tiene un valor adicional. La preparación de muestras de nanopartículas individuales o muestras similares sobre un sustrato ultraplano (wafer de Si/SiO2 o similar) y la previa limpieza del sustrato tiene un valor adicional.

Contacto: Prof. Ulrich Volkmann / volkmann@fis.puc.cl  / Fono: +56 2 23544468

Para más información puede visitar la web de servicios.

¡Advertencia compradores de supuestos nanopartículas de cobre!

Hemos detectado la circulación de supuestos informes de análisis nuestros, alterados, manipulados o falsificados, como parte de la información de venta de productos de nanopartículas de cobre. Los informes cuentan con nuestros nombres e incluso pueden contar con las firmas de las personas que realizaron el análisis AFM. Los informes NO corresponden al producto que les ofrecen, sino que fueron sacados de contexto y usados para “certificar” productos que NO están cubiertos por el análisis o la muestra a la cual se refiere el informe.
En caso de dudas, para verificar la autenticidad de su informe, por favor comuníquense con nosotros:  (
Prof. Dr. Ulrich Volkmann, Email: volkmann@fis.puc.cl).

Alert message for customers / end-users of copper nanoparticles!

[Key words: copper nanoparticles (Cu-NP), customers, end-user, vendor, copper nanoparticle size, AFM, Cu-NP manufacturer, Cu-NP selling, Cu-NP handling, Cu-NP analysis, shelf-life, Cu-NP lab report, altered, manipulated or falsified reports]

We have detected the existence, circulation and use of altered, manipulated or falsified reports of our AFM analysis executed for supposed manufacturers or sellers of supposed copper nanoparticles (Cu-NP) from Chile.
The reports show de name and institution of the persons who carried out the analysis with Atomic Force Microscopy and may count even with the signatures of these persons. Please be aware that these lab reports, dated from June 2, 2016 or later, do not correspond to the product or batch that may be offered to you. The reports are taken out of the context and generate the impression of a kind of "certification" of the product. None of the reports of our lab or other labs at the Institute of Physics of Pontificia Universidad Católica de Chile certifies either the quality of the product you may receive, nor the origin of the product:

• We do not take samples at a production line of any supposed manufacturer.
• We, at our lab, have no certainty, evidence or proof about the existence of Cu-NP manufacturers in Chile.
• We receive at our labs samples from supposed manufactures, vendors, re-sellers and Cu-NP customers. These samples are just a snapshot image of the material. Nanoparticles, including copper nanoparticles, when improperly handled, tend to change their consistency from minute to minute, due chemical reactions with gases present in the environment (e.g. oxygen), due to growth of nano- or micro-crystals (due to contact between particles, due to vibrations / transport, etc.). That means the analysis of this specific sample does not guarantee that the material you may receive will have the same consistency or purity of the material analyzed in our laboratories. In other words: The result of our analysis naturally cannot be extended to a whole production batch, or to an entire product line, or to a specific manufacturer or seller.

Please be also aware that AFM-analysis, in combination with a suited sample preparation, will give you only information about particle size. From AFM measurements you cannot get any information about sample composition. Complementary methods must be applied (e.g. x-ray diffraction, EDS, EDX), in order to determine the chemical composition of the sample. As a customer you must require from your vendor or re-seller the corresponding analysis, which may show that most of the powder consists of copper o most of the material consists of copper oxide and/or copper salts and/or other materials. To get precise information about nanoparticle size you must ask for, or receive an analysis of AFM, FE-SEM, TEM or SAXS. By our knowledge (please correct us) SAXS seems not to be available in Chile at this moment (November 2016). AFM, FE-SEM and TEM are available at our Institute.
Also make sure that the date of the analysis does not differ too much from the date of your quote you got from a manufacturer or seller (e.g., if you receive a quote in September or October, accompanied by lab reports from June or July, it is not helpful for you).

Finally, as an expert customer or end user (familiar with Condensed Matter Physics, Chemical Physics, Material Science, Nanoscience and provided with the characteristic experimental and technological skills of these areas) you may require a similar expertise from your manufacturer or vendor.

Take care: Real copper nanoparticles Cu-NP are highly reactive and can even cause fire or explosion if they get in contact with oxygen.

In case of any doubt or to check the authenticity and validity of the AFM analysis you received, please contact us (Prof. Dr. Ulrich Volkmann, Email: volkmann@fis.puc.cl).

 

Consejos generales (nano copper, copper nanoparticle, AFM analysis, shelf life, end user):
 
-Los informes corresponden a muestras entregadas a nuestro laboratorio. Nosotros NO tomamos muestras durante el proceso de producción, envasado, almacenamiento, etc. Por eso los informes NO certifican de ninguna manera el producto que le ofrece o entrega un vendedor o re-vendedor o un supuesto fabricante. Tampoco podemos verificar el origen de las muestras que nos entregan nuestros clientes para su análisis.
 
-Con nuestro método (AFM) podemos, después de un complejo proceso de preparación, detectar si hay nanopartículas en la muestra. El análisis con AFM sirve muy bien (en combinación con la adecuada preparación de la muestra) para determinar tamaños de nanopartículas. El AFM NO entrega un análisis químico de los elementos o del material (nanopartículas o aglomeraciones). Es decir, solo con AFM NO se puede determinar si se trata de cobre puro, de oxido de cobre o de otro material. Para determinar la composición química del material vamos a contar a partir de aprox. noviembre 2016 con un moderno equipo de FE-SEM con EDS.
 
-Siempre recuerden: Nanopartículas son INVISIBLES para el ojo y para el microscopio de luz. Nanopartículas de un tamaño menor a aprox. 80nm son invisibles para microscopios electrónicos (SEM convencional).
Si Ud. puede ver con el ojo el material que le están ofreciendo, es seguro que se trata en el mejor de los casos de aglomeraciones (o clusters) de nanopartículas. El cliente debe separar estas aglomeraciones, para obtener nanopartículas. Para eso el cliente debe contar con mucha experiencia en nanociencia o emplear personal científico con años de experiencia en el área de Física de Materia Condensada y Nanociencia. Si ud. como cliente final NO maneja la técnica de separación de las aglomeraciones de partículas, simplemente no va lograr incorporar nanopartículas en sus productos. 
 
Después de lo ocurrido le podemos recomendar: Asegúrense que el producto es lo que el vendedor o re-vendedor promete. Nanopartículas de cobre cambian su consistencia minuto a minuto. Un adecuado manejo del producto desde el instante de producción, almacenamiento y transporte es esencial. De lo contrario, las nanopartículas de cobre se convierten rápidamente en óxido de cobre (lo que el experto fácilmente detecta en el color del material aglomerado) o por medio de procesos nanoscopicos, parecidos a la soldadura por roce, crecen micropartículas o microcristales (por ej. dendritas) de cobre.
 
En caso de dudas sobre la existencia y el tamaño de nanopartículas en el producto, le recomendamos solicitarnos un análisis AFM y/o solicitarnos orientación en general. Nosotros tenemos una larga experiencia en el análisis de material en la escala nanométrica. Nuestro laboratorio de Ciencia de Materiales y Superficie es pionero en el análisis AFM (desde 1997) y preparación de muestras a escala nanométrico y sub-nanométrico.
 
En caso de que tenga dudas acerca de la pureza del material puede solicitar un análisis químico o a partir de (aprox.) noviembre de 2016, un análisis EDS con nuestro nuevo equipo de FE-SEM en CIEN-UC.

 

Los académicos del Instituto de Física UC realizan investigación teórica y experimental en las siguientes áreas:

Las actividades de investigación han sido financiadas por diversas fuentes tanto de Chile (Fondecyt, Mecesup, Anillos PBCT/Conicyt, Iniciativa Científica Milenio, Fondef, financiamiento Basal/Conicyt, Cátedras Presidenciales en Ciencia), como del extranjero (ECOS/Conicyt, CNRS/Conicyt, Royal Society (UK), DFG/Conicyt, DAAD/Conicyt, Volkswagen Stiftung (Alemania), NSF (US)), entre muchas otras.

 

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