Difracción de Rayos X

Nuestro laboratorio está equipado con un difractómetro BRUKER D8 ADVANCED de última generación. Como complemento contamos con poderosos software para análisis de datos como:

• TOPAS (Total Pattern Analysis Solutions): Es un programa gráfico de análisis de perfiles. Se utiliza desde el ajuste de una sola línea hasta el análisis cuantitativo de Rietveld.
• LEPTOS : Es un software para el análisis de Difracción de Rayos-X de Alta Resolución, Reflectometría de Rayos-X, dispersión Difusa, Haz Razante.
• PDFMain: Es un software que maneja una de las más completas Bases de Datos de Elementos y Compuestos a nivel mundial. Software utilitario.

La Difracción de Rayos-X (XRD) es útil si quiere realizar:

1. Identificación de fases (identificación de compuestos cristalinos de una muestra).
2. Determinación de estructura cristalográfica y sus parámetros de red.
3. Determinación de espesores de recubrimientos y/o películas delgadas.

Composición de una muestra

Las técnicas llamadas elementales (como absorción atómica, Fluorescencia de Rayos-X, ICP, etc.) pueden determinar los diferentes átomos que están presentes en una determinada muestra (composición elemental). Sin embargo, con XRD se puede saber la estructura que están formando esos átomos. Dado que puede diferenciar incluso entre compuestos que tienen la misma composición elemental pero diferente estructura.

Por ejemplo, Calcita (CaCO3) y Aragonita (CaCO3) tienen exactamente los mismos y la misma cantidad de átomos. Así para una técnica como Fluorescencia de Rayos-X, estos dos compuestos son indistinguibles. Esto no ocurre en XRD donde esos dos compuestos son perfectamente distinguibles el uno del otro por tener distinta estructura cristalográfica.